عنوان
|
بررسی برخی ویژگی های نوری لایه های نازک نانومتری به روش بیضی سنجی
|
نوع پژوهش
|
پایان نامه
|
کلیدواژهها
|
بیضی سنجی، بیضی سنج تحلیلگر چرخان (RAE)، ضرایب اپتیکی،لایه نازک
|
چکیده
|
امروزه، تعیین ضرایب اپتیکی مواد از اهمیت زیادی برخوردار است. از اینرو، روش های انداز گیری متعددی بر مبنای طیف های بازتابی یا عبوری ابداع شده است. یکی از روش های مرسوم برای تعیین این ضرایب بیضی سنجی است. بیضی سنجی یک روش غیرمخرب و غیرتماسی برای اندازه گیری ضرایب اپتیکی و ضخامت لایه های نازک است. در این پایان نامه به روش بیضی سنجی تکفام با استفاده از بیضی سنج تحلیلگر چرخان برخی از ضرایب اپتیکی مواد (در حالت کپه ای و لایه نازک)، با پردازش پارامترهای بیضی سنجی (ψ و Δ)، محاسبه شدند. روش معرفی شده نسبت به سایر روش های بیضی سنجی ارزانتر و ساده است، و نتایج با دقت خوبی با مقادیر مورد انتظار سازگاری دارند.
|
پژوهشگران
|
داود رئوفی (استاد راهنما)، گلاویژ ویسی هلیزاباد (دانشجو)
|