|
عنوان
|
تعیین ضخامت و شکاف انرژی لایه نازک ITO
|
|
نوع پژوهش
|
مقاله ارائه شده کنفرانسی
|
|
کلیدواژه‌ها
|
لایه های نازک، طیفUV-VIS-NIR ، اکسید ایندیوم قلع(ITO)، ضخامت، شکاف انرژی
|
|
چکیده
|
در این تحقیق، لایه نازک اکسید ایندیوم قلع در بازه طول موجی 200 الی 1000 نانومتر، ضخامت لایه بر مبنای ماکزیمم ها و UV-VIS-NIR استفاده از طیف عبور 3/ لایه بر مبنای ضریب جذب محاسبه شد که 94 (Eg) مینیمم های نمودارطیف عبور محاسبه شده است. سپس شکاف انرژی الکترون ولت به دست آمد .
|
|
پژوهشگران
|
داود رئوفی (نفر اول)، عاطفه طاهرنیا (نفر دوم)، لیلا افتخاری (نفر سوم)
|