1404/09/30
داود رئوفی

داود رئوفی

مرتبه علمی: دانشیار
ارکید:
تحصیلات: دکترای تخصصی
شاخص H:
دانشکده: دانشکده علوم پایه
اسکولار:
پست الکترونیکی: d_raoufi [at] ymail.com
اسکاپوس: مشاهده
تلفن:
ریسرچ گیت:

مشخصات پژوهش

عنوان
تعیین ضخامت و شکاف انرژی لایه نازک ITO
نوع پژوهش
مقاله ارائه شده کنفرانسی
کلیدواژه‌ها
لایه های نازک، طیفUV-VIS-NIR ، اکسید ایندیوم قلع(ITO)، ضخامت، شکاف انرژی
سال 1393
پژوهشگران داود رئوفی ، عاطفه طاهرنیا ، لیلا افتخاری

چکیده

در این تحقیق، لایه نازک اکسید ایندیوم قلع در بازه طول موجی 200 الی 1000 نانومتر، ضخامت لایه بر مبنای ماکزیمم ها و UV-VIS-NIR استفاده از طیف عبور 3/ لایه بر مبنای ضریب جذب محاسبه شد که 94 (Eg) مینیمم های نمودارطیف عبور محاسبه شده است. سپس شکاف انرژی الکترون ولت به دست آمد .