نانوذرات اکسید آهن کاربرد گسترده ای در علوم مختلف پیدا کرده اند. با توجه به افزایش روزافزون استفاده این نانوذرات، توسعه روشهای حساس برای اندازه گیری این نانوذرات در نمونه های حقیقی حائز اهمیت می باشد. در این تحقیق، با استفاده از علم ریزسیال و نورسنجی مبنی بر دیود تابنده-آشکارساز جفت شده، روشی برای اندازه گیری نانوذرات مگنتیت توسعه داده شد. اساس کار سیستم طراحی شده بر گیراندازی مغناطیسی نانوذرات داخل ریزتراشه، انحلال توسط اسید و ایجاد سیگنال از طریق تشکیل کمپلکس آهن-تیوسیانات می باشد. نتایج اعتبارسنجی روش نشان داد که محدوده خطی روش از 1 تا 6 ppm با صحت (درصد بازیابی: 56/95) و دقت مناسب (ضریب تغییرات: 17/0 درصد) می باشد که برای اندازه گیری مقادیر اندک نانوذرات مغناطیسی رضایت بخش می باشد. مقادیر حد تشخیص و حد کمی سازی روش به ترتیب 3/0 و 9/0 ppm بدست آمد.
