مهدی حاجی ولیئی

در مقاله سه نمونه ی لایه نازک Au-Pdمورد بررسی قرار گرفته است که به روش تبخیر با باریکه ی الکترونی تهیه و در دمای 600پخت داده شده اند .ضریب بافت این نمونه ها با استفاده از آنالیز طیف سنج پراش پرتو XRD) X) که به منظور تعیین مشخصات ساختاری پوشش ها انجام می گیرد، محاسبه می شود. همچنین ریخت شناسی و ویژگی های ساختار سطح آنها از طریق تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM )و میکروسکوپ روبشی نیروی اتمی) (AFM) بررسی شده است