در این مقاله چهار نمونه ی لایه نازک Au-Pdمورد بررسی قرار گرفته است که به روش تبخیر با باریکه ی الکترونی تهیه و در دمای 600 Cپخت داده شده اند. ضریب بافت این نمونه ها با استفاده از آنالیز طیف سنج پراش پرتو XRD) X )که به منظور تعیین مشخصات ساختاری پوشش ها انجام میگیرد، محاسبه میشود. همچنین ریختشناسی و ویژگیهای ساختار سطح آنها از طریق تصاویر میکروسکوپ الکترونی روبشی) (SEMو میکروسکوپ روبشی نیروی اتمی)(AFM) بررسی شده است
