در این پژوهش فیلم های نازک روی با ضخامت های 270 و 800 نانومتر بوسیله ی عمل تبخیر با باریکه الکترونی در خلا بالا (Torr5- 10 ×4)بر روی زیر لایه هایشیشه ای تخت نشانده شد و سپس در دماهای 573 و 873 درجه ی کلوین به مدت 1 و 2 ساعت در معرض هوا در کوره باز پخت شدند.برای اطمینان یافتن از ضخامت دقیق لایه های تهیه شده از آزمون پس پراکندگی رادرفورد(RBS) استفاده گردید.خواصفیزیکی،مورفولوژی و ساختاری آنها به صورت تابعی از دمای باز پخت به وسیله ی آنالیز طیف سنجی پراش پرتو ایکس(XRD)، بیناب سنجی فرابنفش – مرئی (UV-VIS)، تصاویر میکروسکوپ الکترونیروبشی- گسیل میدانی (FE- SEM) مورد تجزیه تحلیل قرار گرفت.نتایج بدست آمده حاکی از آن است که با افزا یش دمای باز پخت ذرات نانو به سمت نانومیله ها تبدیل می شوند.
