هدف از برگزاری کارگاه، آشنایی اساتید و پژوهشگران از نحوه جستجو اختراعات بین المللی ثبت شده می باشد. در این کارگاه ضمن معرفی ساختار پتنت و نحوه دسترسی به اطلاعات پتنت، مبانی و گامهای اساسی در تحلیل پتنت ارایه شد. برای آشنایی بیشتر شرکت کنندگان، مطالعه موردی فناوری نانو مورد تحلیل پتنت قرار گرفت.
