داود رئوفی

چکیده: در این کار لایه های نازک کادمیوم تلوراید (CdTe) بر روی زیرلایه های نقره و کوارتز تهیه شده به روش تبخیر حرارتی مورد مطالعه قرار گرفتند. برای بررسی خواص ساختاری و مورفولوژی سطح نمونه ها به ترتیب از دستگاههای پراش-سنج پرتو ایکس (XRD) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (FESEM) استفاده شده است. خواص اپتیکی نمونه ها نیز از اندازه گیری طیف های جذب و بازتاب به کمک دستگاه UV-VIS ارزیابی شدند. برای تعیین اثر بازپخت و فشار بر روی نمونه-ها، نمونه ها به مدت یک ساعت تحت دماهای °C300 و °C500 و فشارهایmbar 10-5×10 و mbar 10-5×65 قرار گرفتند. نتایج بدست آمده نشان می دهد اثر دما روی ساختار و خواص اپتیکی لایه نازک بیشتر از اثر فشار است. افزایش دما سبب می-شود پارامترهای ساختاری لایه تغییر کنند. بعنوان مثال، برای نمونه هایی که روی نقره لایه نشانی شدند اندازه کریستالیتی لایه برای جهت گیری ترجیحی (220) از 13 nm به 49.48 nm افزایش می یابد. همچنین اندازه کریستالیتی لایه برای نمونه-هایی که از زیرلایه کوارتز استفاده شده است در جهت گیری ترجیحی (111) از 7.41 nm به 87.10 nm افزایش می یابد. درحالیکه پارامتر شبکه و میکروتنش لایه کاهش می یابد. همچنین با افزایش دما، گاف انرژی لایه نازک روی نقره از 1.75 eV به 1.38 eV کاهش می یابد و برای زیرلایه کوارتز ابتدا کاهش و سپس افزایش می یابد. سایر پارامترهای اپتیکی نیز با تغییر دما تغییر خواهند کرد. افزایش فشار نیز اندازه کریستالیتی لایه نازک لایه نشانی شده روی نقره را از 13 nm به 17.20 nm و لایه نازک لایه نشانی شده روی کوارتز را از 7.41 nm به 31.5 nm افزایش می دهد. نتایج آنالیز طیف سنج فرابنفش-مرئی نشان می دهد با افزایش فشار، گاف انرژی لایه نازک از 1.75 eV به 1.4 eV کاهش می یابد درحالیکه برای نمونه های با زیرلایه کوارتز از 1.5 eV به 1.57 eV افزایش پیدا می کند. تصاویر بدست آمده از مورفولوژی سطح نتایج آنالیزهای ساختاری و اپتیکی را تایید می کند.