کادمیوم تلورید CdTe یک نیمرسانا از گروه (II, VI) است. کادمیوم تلورید با دارا بودن فاصله باند انرژی ev 54/1، ضریب جذب و شفافیت بالا، یکی از گزینه های مناسب برای آشکارسازی مادون قرمز، فتوولتائیک و کاربردهای الکترونیکی محسوب می شود و به علت بازده 5/16 %آزمایشگاهی، این سلول بیشترین کاربرد را در بین بقیه سلول های خورشیدی داراست. در این پژوهش لایه های نازک CdTe به روش تبخیر حرارتی در محفظه خلاء 6-10 تور بر روی زیر لایه های شیشه، در دماهای زیر لایه ای 300 و 400 و 500 و ضخامت nm 300 لایه نشانی شدند. سپس این لایه ها به مدت 2ساعت در دمای 500 پخت شدند. ساختار نمونه ها با استفاده از پراش اشعه ایکس (XRD) و خواص اپتیکی آن ها با استفاده از طیف سنج نوری (UV-Vis) مورد ارزیابی قرار گرفتند. همچنین برای تحلیل مورفولوژی سطحی از میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) استفاده شد. طیف های پراش (XRD) نشان دهنده ساختار هگزاگونال لایه ها هستند. نتایج حاصل از (XRD) ساختار بلوری بعد از پخت و ساختار بی شکل قبل از پخت را تایید می کند و با بهره گیری از نتایج (XRD) کمیت هایی نظیر اندازه دانه، ثابت های شبکه، میکروکرنش و چگالی های جابجایی محاسبه شدند. با استفاده از طیف سنج نوری (UV-Vis)، تراگسیل (عبور) و جذب لایه ها اندازه گیری شد و همچنین گاف انرژی در دماهای زیر لایه ای مختلف 300 و 400 و 500 مورد ارزیابی قرار گرفت. از تصاویر SEM نیز اطلاعاتی نظیر اندازه دانه، فضای خالی بین بلورک ها و مرزدانه حاصل شد.