بازتاب سنجی پرتو x به ما امکان تعیین ضخامت، چگالی و ناهمواری لایه های نازک را می دهد. تعیین ضخامت لایه های نازک به روش های مختلف بازتابندگی پرتو x )مانند روش تطبیق منحنی، تبدیل فوریه، تبدیل موجک،.....( صورت می گیرد. روش های تبدیل فوریه و تبدیل موجک نیاز به شبیه سازی و تطبیق منحنی را برطرف می کند. تطبیق منحنی دقت بالاتری دارد اما بسیار وقت گیر است در صورتی که روش های تبدیل فوریه و تبدیل موجک سریع تر و ساده تر می باشد مزیت دیگر این روش ها این است که می توان این رو ش ها را در تحلیل لایه های نازک بدون نیاز به اطلاعات در مورد خواص شیمیایی و فیزیکی آنها به کار برد و می تواند در تعیین مشخصه های لایه های ترکیبی و به ویژه لایه های اکسیدی مفید واقع شود.
