اندازه گیری ضرایب اپتیکی (ضرایب شکست و خاموشی) از جمله مباحث مهم نانو ساختارها است. روشهای متعددی وجود دارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز-کرونیگ و بیضی سنجی را نام برد. در این مقاله با استفاده از این دو روش ضرایب اپتیکی نانو ساختار های اکسید ایندیم آلاییده با قلع که در ضخامت های 134،145و290 نانومتر به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شده اند را بررسی می کنیم و نتایج را مقایسه می کنیم.
