چکیده-اندازهگیری ضرایب اپتیکی )ضرایب شکست و خاموشی( از جمله مباحث مهم لایههای نازک است. روشهای متعددی وجود دارند که میتوان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازهگیری کرد. از جمله این روشها میتوان روش کرامرز-کرونیگ را نام ، برد. در این مقاله با استفاده از این روش ضرایب اپتیکی لایههای نازک اکسید ایندیم آلاییده با قل که در ضاامتهای 321 312 و 392 نانومتر به روش تبایر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشهای و در شرایط یکسان تهیه شدهاند را بررسی می- کنیم.
