اندازه گیری ضرایب اپتیکی از جمله مباحث مهم لایه های نازک است. روش های متعددی وجود دارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز-کرونیگ را نام برد. در این تحقیق با استفاده از روش کرامرز-کرونیگ ضرایب اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم آلاییده با قلع، که در ضخامت های مختلف به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شده اند، را بررسی می کنیم.
